同步辐射吸收谱（XAFS）可以分为三个部分，边前区（Pre-edge）、近边区(XANES)和扩展边（EXAFS）。XANES可以得到吸收原子的电子结构，包括价态、对称性、轨道占据等信息；EXAFS可以得到吸收原子周围配位信息，包括配位原子种类、键长、配位数、无序度等信息。XAFS方法不依赖晶体结构、不限制样品形态、具有元素选择性、可得到体相平均结构信息，是研究原子配位环境的重要分析手段，是结构研究领域的强有力工具！

案例1： XAFS与XRD和球差的联用，解析单原子结构！（ACS Appl. Mater. Interfaces, 2022, 14, 50849-50857.）

 案例2：XAFS与XPS和软线分析的联用，解析单原子结构！（ACS Appl. Mater. Interfaces, 2022, 14, 29822-29831.）

案例3：XAFS基础分析与特征分析（路径图分析、近边模拟、一阶导价态拟合）联用，解析钙钛矿电池材料的Ti-石墨烯单原子结构！  （Nature Energy 2021, 6, 1154-1163.）

1.同步辐射光源所需的样品量要求：

• 粉末样品最好过400目，尽量100mg以上；
• 块体或者薄膜长宽1cm左右，厚度一般1mm以内，需要具体评估合适厚度；
• 液体5ml，浓度越高越好

2.台式X射线源所需的样品量要求：