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椭偏仪
  • 满意度

    99%

  • 仪器型号

    M-2000v,J.A. Woollam RC2等

  • 预约次数

    1035

  • 服务周期

    1-3个工作日

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仪器详情

a. n(折射率),k(消光系数)值

b. 膜厚

常规椭偏仪的光谱测试范围370到1000nm,其他范围请咨询项目经理400-831-0631

膜厚的测试范围是0.5nm-10um。

样品要求:

1. 样品状态:材料一般为块状或薄膜,大小无特殊要求; 

2. 如果有基底的膜层结构要做折射率和消光系数,基地厚度要求越厚越好,膜层厚度要在10um以下,如果是单层膜样品,没有基底,膜厚越厚越好,最好500um以上;膜层需为透明薄膜且膜层表面均匀,基底不需要透明。

3.特殊情况需提前沟通。

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一般项目:技术服务、技术开发、技术咨询、技术交流、技术转让、技术推广,金属材料制造,金属结构制造,金属工具制造,金属包装容器及材料制造,金属表面处理及热处理加工,锻件及粉末冶金制品制造,金属链条及其他金属制品制造。
咨询热线:400-888-3513

公司邮箱:mjjt_2014@126.com

公司地址:辽宁省鞍山市立山区轴承街1号

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