X射线荧光光谱仪（X-ray Fluorescence Spectrometer，简称：XRF光谱仪），是一种快速的、非破坏式的物质测量方法，主要用于确定材料中元素的种类和含量。XRF是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。被广泛用于元素分析和化学分析，特别是在金属，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，地球化学，法医学，考古学等。

样品要求：
1. 样品状态：可为粉末、块状、薄膜样品

2. 粉末样品：粉末样品需要至少2 g ，最好3 g以上，样品在测试之前尽量干燥，可以过200目筛的样品无需研磨；含碳元素含量超过10%的样品，请先将样品烧成灰，再测试；

3. 块状、薄膜样品：块状样品尺寸在2.5 ~4.5cm之间，标明测试面（表面光滑平整），块体样品最好平面平整光滑，上下面平行；

4. 粉末样品只能回收剩余的样品；