99%
Quantum Design MPMS3
1001
1-3个工作日
1,温度区间:2-400 K ,±7T; 2,样品要求:粉末样品质量约20mg以上,块体样品尺寸大约5*5*2mm,可测晶体c方向平行或垂直于磁场; 3,测试模式:DC直流磁化率(场冷和零场冷模式下的变温磁化率Xm-T,固定温度下的扫场磁滞回线M-H)。AC交流磁化率(DC零场和加场下的变温交流磁化率测量,可以同时得到交流磁化率的实部和虚部,交流测试频率0.1~1000Hz,振幅0.1~10Oe)。加电压下的DC变温磁化率和定温MH测量,电压范围±1000V(通常用于单晶和薄膜样品)。
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