聚焦离子束（Focused Ion beam，简称FIB）是一种利用电透镜将离子束聚焦成非常小尺寸的显微切割仪器。

FIB是将离子源（大多数FIB都用Ga，也有设备具有He和Ne离子源）产生的离子束经过离子枪加速，聚焦后作用于样品表面。